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技術(shù)文章

太陽光模擬器測量光譜致合度的方法有哪些?

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  你知道要如何量測太陽光模擬器的光譜致合度嗎?在量測光譜致合度前,我們需要確認(rèn)模擬器可適用于光譜匹配測量任務(wù),并且確保模擬器的靈敏度適合于所要量測的波長范圍。
  
  若使用脈沖式模擬器,需要注意許多事項(xiàng),包含:
  
  1、光譜儀的積分時(shí)間應(yīng)適合模擬器的脈沖長度。
  
  2、模擬器的光譜可能會(huì)在光脈沖期間發(fā)生變化。
  
  3、在光譜偏移的情況下,輻照度監(jiān)視器和待測樣品之間光譜響應(yīng)度的差異將會(huì)引入光譜失配誤差。
  
  4、積分時(shí)間應(yīng)小于脈沖長度的一半。
  
  另外,根據(jù)IEC60904-9的說明,可能決定光譜輻照度測量質(zhì)量的特性參數(shù)包含:波長分辨率、光譜輻射計(jì)、雜散光或二階波長效應(yīng)、輸入光學(xué)器件的角度響應(yīng)。
  

太陽光模擬器

 

  除了特性參數(shù),量測太陽光模擬器的光譜致合度也有許多可用的測量技術(shù)。根據(jù)IEC60904-9的說明,以下特性參數(shù)可能決定光譜輻照度測量的質(zhì)量:
  
  波長分辨率:光譜儀的波長分辨率在可見光范圍(300nm至900nm)內(nèi)應(yīng)等于或優(yōu)于5nm,在近紅外范圍內(nèi)(900nm至1200nm)應(yīng)等于或優(yōu)于10nm。(注意:波長分辨率是分光輻射計(jì)分離兩條靠近的光譜線的能力的量度)
  
  光譜輻射計(jì)通常在低輻照度水平下使用鎢校準(zhǔn)燈進(jìn)行校準(zhǔn)。然而,太陽模擬器的光譜強(qiáng)度可能與校準(zhǔn)條件有很大不同。
  
  欲量測太陽光模擬器的光譜致合度有許多可用的測量技術(shù)。然而,CCD光譜輻射計(jì)技術(shù)由于其緊湊的尺寸和出色的光譜性能而成為常見的技術(shù)。
  
  使用CCD光譜儀進(jìn)行光譜輻照度測量通常需要使用兩臺(tái)儀器來涵蓋完整的波長范圍(例如:分別使用Si和InGaAs檢測器)。SiCCD通常覆蓋300-1100nm,InGaAsCCD可以覆蓋900-1700nm。
  
  結(jié)合這兩種儀器和適當(dāng)?shù)挠嘞倚U鈱W(xué)器件,可以適當(dāng)?shù)販y量太陽光模擬器的光譜分布。

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